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XM-60多軸校正儀

商品編號:XM-60
Renishaw XM-60是一款雷射測量系統,只需一次設定即可沿線性軸同時測量6個自由度的誤差。它具有強大的診斷工具,通過一次採集就可以測量軸的所有幾何誤差。對於執行空間補償的用戶來說,XM-60為他們獲得所需資料組提供了一種快速精準的方法。所有測量均為光學測量,可在任意方向執行。
    • 快速:同時進行線性、傾角、偏轉角、側轉角、水平與垂直真直度量測,以上量測和傳統雷射技術一致。
    • 簡單:設定簡便、類似其他干涉量測系統的操作方式。自動方向偵測與圖形化對準可減少人為操作錯誤。
    • 安心:直接測量所有誤差,可讓使用者在進行測試時查看結果。
    • 性能:獨特光學式側轉角量測系統,能在任何方向進行側轉角量測。
    • 直接測試取得定位/角度(pitch,yaw,row)/直度(水平,垂直)誤差參數,可單獨分項檢測與他種系統交叉比對。
    • 簡易設定及對焦。
    • 採光纖導引先進技術,將雷射源獨立在外,提高量測精度恆定-避免雷射本體熱源干擾長期測試精度飄移。
    • 專利:Z軸roll測試,實踐空間精度21自由度誤差需求。
    • 搭配Renishaw三維空間精度誤差補償軟體與ballbar系統,可對西門子840D、發那科31i、32i作空間精度補償。
  • Introduction to XM-60 multi axis calibrator


    XM-60 multi axis calibrator 
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